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Charge-displacement analysis for excited states (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Charge-displacement analysis for excited states (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2014-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1063/1.4863411 (literal)
- Alternative label
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Ronca E.; Pastore M.; Belpassi L.; De Angelis F.; Angeli C.; Cimiraglia R.; Tarantelli F. (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#url
- http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84905565119&partnerID=q2rCbXpz (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
- Rivista
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo
- Note
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- Istituto CNR di Scienze e Tecnologie Molecolari, via Elce di Sotto 8, I-06123 Perugia, Italy; Dipartimento di Chimica, Biologia e Biotecnologie, Università Degli Studi di Perugia, via Elce di Sotto 8, I-06123 Perugia, Italy; Dipartimento di Scienze Chimiche e Farmaceutiche, Università Degli Studi di Ferrara, via Borsari 46, I-44100 Ferrara, Italy (literal)
- Titolo
- Charge-displacement analysis for excited states (literal)
- Abstract
- We extend the Charge-Displacement (CD) analysis, already successfully employed to describe the nature of intermolecular interactions [L. Belpassi et al., J. Am. Chem. Soc. 132, 13046 (2010)] and various types of controversial chemical bonds [L. Belpassi et al., J. Am. Chem. Soc. 130, 1048 (2008); N. Salvi et al., Chem. Eur. J. 16, 7231 (2010)], to study the charge fluxes accompanying electron excitations, and in particular the all-important charge-transfer (CT) phenomena. We demonstrate the usefulness of the new approach through applications to exemplary excitations in a series of molecules, encompassing various typical situations from valence, to Rydberg, to CT excitations. The CD functions defined along various spatial directions provide a detailed and insightful quantitative picture of the electron displacements taking place. © 2014 AIP Publishing LLC. (literal)
- Prodotto di
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