TEM for Characterization of Semiconductor Nanomaterials (Contributo in volume (capitolo o saggio))

Type
Label
  • TEM for Characterization of Semiconductor Nanomaterials (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (literal)
Anno
  • 2014-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1007/978-3-642-38934-4_3 (literal)
Alternative label
  • Elvio Carlino (2014)
    TEM for Characterization of Semiconductor Nanomaterials
    Springer Science+Business Media, Berlin, Heidelberg (Germania) in Transmission Electron Microscopy Characterization of Nanomaterials, 2014
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Elvio Carlino (literal)
Pagina inizio
  • 89 (literal)
Pagina fine
  • 148 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume
  • Transmission Electron Microscopy Characterization of Nanomaterials (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#volumeInCollana
  • 3 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali
  • 59 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • CNR-IOM-TASC (literal)
Titolo
  • TEM for Characterization of Semiconductor Nanomaterials (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn
  • 978-3-642-38933-7 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume
  • Challa S. S. R. Kumar (literal)
Abstract
  • Transmission electron microscopy (TEM) provides a wide range of methods to study the morphology, the crystal structure and perfection, the chemistry, and the magnetic and the electronic properties of the matter at the highest spatial resolution In this chapter some TEM approaches to study nanostructured semiconductors will be described with the help of practical examples of their application to different kinds of material systems. (literal)
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