Ti/Al ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures with different defect density (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Ti/Al ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures with different defect density (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2014-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1016/j.apsusc.2014.07.018 (literal)
Alternative label
  • Greco G.; Iucolano F.; Bongiorno C.; Giannazzo F.; Krysko M.; Leszczynski M.; Roccaforte F. (2014)
    Ti/Al ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures with different defect density
    in Applied surface science
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Greco G.; Iucolano F.; Bongiorno C.; Giannazzo F.; Krysko M.; Leszczynski M.; Roccaforte F. (literal)
Pagina inizio
  • 546 (literal)
Pagina fine
  • 551 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#url
  • http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84906693630&partnerID=q2rCbXpz (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 314 (literal)
Rivista
Note
  • Scopu (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • CNR-IMM, Catania, Italy STMicroelectronics, Catania, Italy Institute of High Pressure Physics PAS and TopPGaN, Warszaw, Poland (literal)
Titolo
  • Ti/Al ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures with different defect density (literal)
Abstract
  • [object Object] (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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