Carrier-number fluctuations in the 2-dimensional electron gas at the LaAlO3/SrTiO3 interface (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Carrier-number fluctuations in the 2-dimensional electron gas at the LaAlO3/SrTiO3 interface (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2013-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1063/1.4838637 (literal)
Alternative label
  • C. Barone1,* F. Romeo1, S. Pagano1, E. Di Gennaro2, F. Miletto Granozio2, I. Pallecchi3, D. Marre'3, and U. Scotti di Uccio2 (2013)
    Carrier-number fluctuations in the 2-dimensional electron gas at the LaAlO3/SrTiO3 interface
    in Applied physics letters
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • C. Barone1,* F. Romeo1, S. Pagano1, E. Di Gennaro2, F. Miletto Granozio2, I. Pallecchi3, D. Marre'3, and U. Scotti di Uccio2 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#url
  • http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84889774939&partnerID=q2rCbXpz (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 103 (literal)
Rivista
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo
  • 23 (literal)
Note
  • Scopu (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • 1Dipartimento di Fisica \"E.R. Caianiello\" and CNR-SPIN Salerno, Universita` di Salerno, I-84084 Fisciano, Salerno, Italy 2CNR-SPIN Napoli and Dipartimento di Fisica, Universita` di Napoli \"Federico II\", I-80126 Napoli, Italy 3CNR-SPIN Genova and Dipartimento di Fisica, Universita` di Genova, I-16152 Genova, Italy (literal)
Titolo
  • Carrier-number fluctuations in the 2-dimensional electron gas at the LaAlO3/SrTiO3 interface (literal)
Abstract
  • The voltage-spectral density SV (f) of the 2-dimensional electron gas formed at the interface of LaAlO3/SrTiO3 has been thoroughly investigated. The low-frequency component has a clear 1/f behavior with a quadratic bias current dependence, attributed to resistance fluctuations. However, its temperature dependence is inconsistent with the classical Hooge model, based on carrier-mobility fluctuations. The experimental results are, instead, explained in terms of carrier-number fluctuations, due to an excitation-trapping mechanism of the 2-dimensional electron gas. (literal)
Prodotto di
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