Electron Beam and Ion Beam Induced Depositions: morphology, composition, contaminations and applications to nanotechnology (Abstract/Poster in atti di convegno)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Abstract/Poster in atti di convegno (Classe)

Label

• Electron Beam and Ion Beam Induced Depositions: morphology, composition, contaminations and applications to nanotechnology (Abstract/Poster in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• A. Taurino, M. Catalano (2011)
  Electron Beam and Ion Beam Induced Depositions: morphology, composition, contaminations and applications to nanotechnology
  in X Multinational Congress on Microscopy, Urbino, Sept 4-9, 2011
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• A. Taurino, M. Catalano (literal)

Pagina inizio

• 521 (literal)

Pagina fine

• 522 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume

• Proceedings of the X Multinational Congress on Microscopy (literal)

Note

• Abstract (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• CNR-IMM, Lecce (literal)

Titolo

• Electron Beam and Ion Beam Induced Depositions: morphology, composition, contaminations and applications to nanotechnology (literal)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• MASSIMO CATALANO (Unità di personale interno)
• ANTONIETTA TAURINO (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• MASSIMO CATALANO (Unità di personale interno)
• ANTONIETTA TAURINO (Unità di personale interno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)