Fourier-transform far-infrared spectroscopic ellipsometry for standoff material identification (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Fourier-transform far-infrared spectroscopic ellipsometry for standoff material identification (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• M. Ortolani, U. Schade (2010)
  Fourier-transform far-infrared spectroscopic ellipsometry for standoff material identification
  
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• M. Ortolani, U. Schade (literal)

Pagina inizio

• 791 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 623 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Titolo

• Fourier-transform far-infrared spectroscopic ellipsometry for standoff material identification (literal)

Prodotto di

• Istituto di fotonica e nanotecnologie (IFN) (Istituto)
• MEMS,NEMS e Dispositivi microelettronici (MD.P05.018.001) (Modulo)

Autore CNR

• ENNIO GIOVINE (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• ENNIO GIOVINE (Unità di personale interno)

Prodotto

• Istituto di fotonica e nanotecnologie (IFN) (Istituto)
• MEMS,NEMS e Dispositivi microelettronici (MD.P05.018.001) (Modulo)