A new tool for nanoscale X-ray absorption spectroscopy and element-specific SNOM microscopy (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• A new tool for nanoscale X-ray absorption spectroscopy and element-specific SNOM microscopy (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2009-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• S. Larcheri, F. Rocca, D. Pailharey, F. Jandard, R. Graziola, A. Kuzmin, R. Kalendarev, J. Purans (2009)
  A new tool for nanoscale X-ray absorption spectroscopy and element-specific SNOM microscopy
  in Micron (1993)
  (literal)

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• S. Larcheri, F. Rocca, D. Pailharey, F. Jandard, R. Graziola, A. Kuzmin, R. Kalendarev, J. Purans (literal)

Pagina inizio

• 61 (literal)

Pagina fine

• 65 (literal)

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• Subject Category: Microscopy. IDS Number: 379UE ISSN: 0968-4328 DOI: 10.1016/j.micron.2008.01.020 (literal)

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• 40 (literal)

Rivista

• Micron (Rivista)

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• doi:10.1016/j.micron.2008.01.020 (literal)

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• Article - Conference Paper (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• [S. Larcheri, Rocca] CNR-IFN, Unita` FBK-CeFSA di Trento, Via alla Cascata 56/C, Trento 38100, Italy; [D. Pailharey, F. Jandard] CRMC-N and Université de la Méditerranée, Campus de Luminy, Marseille 13009, France; [R. Graziola] Dipartimento di Fisica, Università di Trento, Via Sommarive 14, Trento 38100, Italy; [A. Kuzmin, R. Kalendarev, J. Purans] Institute of Solid State Physics, University of Latvia, Kengaraga 8, Riga LV-1063, Latvia. (literal)

Titolo

• A new tool for nanoscale X-ray absorption spectroscopy and element-specific SNOM microscopy (literal)

Abstract

• Investigations of complex nanostructured materials used in modern technologies require special experimental techniques able to provide information on the structure and electronic properties of materials with a spatial resolution down to the nanometer scale.We tried to address these needs through the combination of X-ray absorption spectroscopy (XAS) using synchrotron radiation microbeams with scanning near-field optical microscopy (SNOM) detection of the X-ray excited optical luminescence (XEOL) signal. The first results obtained with the prototype instrumentation installed at the European Synchrotron Radiation Facility (Grenoble, France) are presented. They illustrate the possibility to detect an element-specific contrast and to perform nanoscale XAS experiments at the Zn K and W L_3-absorption edges in pure ZnO and mixed ZnWO_4/ZnO thin films. (literal)

Prodotto di

• Metodologie avanzate con raggi X e loro applicazioni (MD.P03.012.002) (Modulo)
• Sviluppo e diagnostica ottica e spettroscopica di materiali e strutture per la fotonica (MD.P03.012.001) (Modulo)
• Istituto di fotonica e nanotecnologie (IFN) (Istituto)

Autore CNR

• FRANCESCO ROCCA (Unità di personale esterno)
• SILVIA LARCHERI (Unità di personale esterno)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "A new tool for nanoscale X-ray absorption spectroscopy and element-specific SNOM microscopy" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto di fotonica e nanotecnologie (IFN) (Istituto)
• Sviluppo e diagnostica ottica e spettroscopica di materiali e strutture per la fotonica (MD.P03.012.001) (Modulo)
• Metodologie avanzate con raggi X e loro applicazioni (MD.P03.012.002) (Modulo)

Autore CNR di

• FRANCESCO ROCCA (Unità di personale esterno)
• SILVIA LARCHERI (Unità di personale esterno)

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• Micron (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "A new tool for nanoscale X-ray absorption spectroscopy and element-specific SNOM microscopy" (Insieme di parole chiave)