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Characterization of single frequency Yb:KYF4 lasers at 1.03 µm for optical frequency metrology (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Characterization of single frequency Yb:KYF4 lasers at 1.03 µm for optical frequency metrology (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2008-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
G. Galzerano, P. Laporta, E. Sani, L. Bonelli, A. Toncelli, M. Tonelli, M. Norgia, A. Pesatori, C. Svelto (2008)
Characterization of single frequency Yb:KYF4 lasers at 1.03 µm for optical frequency metrology
in IEEE transactions on instrumentation and measurement
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- G. Galzerano, P. Laporta, E. Sani, L. Bonelli, A. Toncelli, M. Tonelli, M. Norgia, A. Pesatori, C. Svelto (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
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- Rivista
- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
- Titolo
- Characterization of single frequency Yb:KYF4 lasers at 1.03 µm for optical frequency metrology (literal)
- Prodotto di
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