Active electric near field imaging of electronic devices (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Active electric near field imaging of electronic devices (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2008-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1016/j.infrared.2007.12.035 (literal)

Alternative label

• A. Coppa 1; V. Foglietti 1; E. Giovine 1; A. Doria 2; G.P. Gallerano 2; E. Giovenale 2; A. Cetronio 3; C. Lanzieri 3; M. Peroni 3; F. Evangelisti 1 (2008)
  Active electric near field imaging of electronic devices
  in Infrared physics & technology; ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS, AMSTERDAM (Paesi Bassi)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• A. Coppa 1; V. Foglietti 1; E. Giovine 1; A. Doria 2; G.P. Gallerano 2; E. Giovenale 2; A. Cetronio 3; C. Lanzieri 3; M. Peroni 3; F. Evangelisti 1 (literal)

Pagina inizio

• 470 (literal)

Pagina fine

• 472 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 51 (literal)

Rivista

• Infrared physics & technology (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 3 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 5 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• 1. Istituto di Fotonica e Nanotecnologie, Via Cineto Romano 42, 00156 Roma, Italy 2. ENEA - Dipartimento Tecnologie Fisiche e Nuovi Materiali, 00044 Frascati, Italy 3. Selex Sistemi Integrati S.p.A., Via Tiburtina, Km 12,400; 00131 Roma, Italy (literal)

Titolo

• Active electric near field imaging of electronic devices (literal)

Abstract

• An active two dimensional near field imaging of a High Electron Mobility Transistor (HEMT) used as THz detector has been performed. The reflective imaging system developed at the ENEA FEL Facility in Frascati has been used to this purpose. This imaging technique has shown to be particularly powerful in resolving various coupling mechanisms of the incident radiation with the device. (literal)

Editore

• ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS (Editore)

Prodotto di

• MEMS,NEMS e Dispositivi microelettronici (MD.P05.018.001) (Modulo)
• Istituto di fotonica e nanotecnologie (IFN) (Istituto)

Autore CNR

• ANDREA COPPA (Persona)
• FLORESTANO EVANGELISTI (Unità di personale esterno)
• ENNIO GIOVINE (Persona)
• VITTORIO FOGLIETTI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Active electric near field imaging of electronic devices" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• ENNIO GIOVINE (Persona)
• VITTORIO FOGLIETTI (Persona)
• FLORESTANO EVANGELISTI (Unità di personale esterno)
• ANDREA COPPA (Persona)

Prodotto

• Istituto di fotonica e nanotecnologie (IFN) (Istituto)
• MEMS,NEMS e Dispositivi microelettronici (MD.P05.018.001) (Modulo)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Infrared physics & technology (Rivista)

Editore di

• ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS (Editore)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Active electric near field imaging of electronic devices" (Insieme di parole chiave)