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Oxide/metal interface distance and epitaxial strain in the NiO/Ag(001) system (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Oxide/metal interface distance and epitaxial strain in the NiO/Ag(001) system (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1103/PhysRevLett.91.046101 (literal)
- Alternative label
C. Lamberti, E. Groppo, C. Prestipino, S. Casassa, A.M. Ferrari, C. Pisani, C. Giovanardi, P. Luches, S. Valeri and F. Boscherini (2003)
Oxide/metal interface distance and epitaxial strain in the NiO/Ag(001) system
in Physical review letters (Print); The American Physical Society, College Park, MD 20740-3844 (Stati Uniti d'America)
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- C. Lamberti, E. Groppo, C. Prestipino, S. Casassa, A.M. Ferrari, C. Pisani, C. Giovanardi, P. Luches, S. Valeri and F. Boscherini (literal)
- Pagina inizio
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#url
- http://prl.aps.org/abstract/PRL/v91/i4/e046101 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
- Rivista
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- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo
- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- Department of Inorganic, Physical and Materials Chemistry, University of Torino, Via P. Giuria 7, I-10125 Torino Italy and Unità INFM di Torino, Torino, Italy
INFM-National Center on nanoStructures and bioSystems at Surfaces (S3) and Dipartimento di Fisica, Università di Modena e Reggio Emilia, Via G. Campi 213/a, 41100 Modena, Italy
INFM and Dipartimento di Fisica, Università di Bologna, Viale C. Berti Pichat 6/2 40127 Bologna, Italy (literal)
- Titolo
- Oxide/metal interface distance and epitaxial strain in the NiO/Ag(001) system (literal)
- Abstract
- Geometric parameters of NiO films epitaxially grown on Ag(001) were determined using two independent experimental techniques and ab initio simulations. Primary beam diffraction modulated electron emission experiments determined that the NiO films grow with O on top of Ag and that the oxide/metal interface distance is d=2.3+/-0.1 Angstrom. Polarization-dependent x-ray absorption, at the Ni-K edge, determined the tetragonal strain (r(parallel to)=2.046+/-0.009 Angstrom, r(perpendicular to)=2.12+/-0.02 Angstrom) and d=2.37+/-0.05 Angstrom. Periodic slab model results agree with the experiments (d=2.40, r(parallel to)=2.07, r(perpendicular to)=2.10 Angstrom; the O-on-top configuration is the most stable). (literal)
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