http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID24938
Measurements of the frequency and intensity noise of 2 µm Tm-Ho:KYF laser (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Measurements of the frequency and intensity noise of 2 µm Tm-Ho:KYF laser (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
G. Galzerano, E. Sani, A. Toncelli, M. Tonelli, C. Svelto, S. Taccheo, P. Laporta (2006)
Measurements of the frequency and intensity noise of 2 µm Tm-Ho:KYF laser
in IEEE transactions on instrumentation and measurement
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- G. Galzerano, E. Sani, A. Toncelli, M. Tonelli, C. Svelto, S. Taccheo, P. Laporta (literal)
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- Pagina fine
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- Rivista
- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
- Titolo
- Measurements of the frequency and intensity noise of 2 µm Tm-Ho:KYF laser (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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