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Prediction of yield losses using relative leaf area models (Contributo in atti di convegno)
- Type
- Label
- Prediction of yield losses using relative leaf area models (Contributo in atti di convegno) (literal)
- Anno
- 1996-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
Lotz L.A.P., Christensen S., Cloutier D., Fernandez Quintanilla C., Légère A., Lemieux C., Lutman P.J.W., Pardo Iglesias A., Salonen J., Sattin M., Stigliani L., Tei F. (1996)
Prediction of yield losses using relative leaf area models
in Second International Weed Control Congress, Copenhagen, 25-28 giugno 1996
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Lotz L.A.P., Christensen S., Cloutier D., Fernandez Quintanilla C., Légère A., Lemieux C., Lutman P.J.W., Pardo Iglesias A., Salonen J., Sattin M., Stigliani L., Tei F. (literal)
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- Note
- Google Scholar (literal)
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
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- DLO, Wageningen, NL
Dept of weed science and pesticide science, Flakkeebjerg, DK
Agriculture Canada, Québec, Canada
CCMS, Madrid, Spagna
Saskatoon research centre, Canada
RRES, UK
Agriculture Research Centre, Jokioinen, Finlandia
IBAF-CNR (literal)
- Titolo
- Prediction of yield losses using relative leaf area models (literal)
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