Prediction of yield losses using relative leaf area models (Contributo in atti di convegno)

Type
Label
  • Prediction of yield losses using relative leaf area models (Contributo in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 1996-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Lotz L.A.P., Christensen S., Cloutier D., Fernandez Quintanilla C., Légère A., Lemieux C., Lutman P.J.W., Pardo Iglesias A., Salonen J., Sattin M., Stigliani L., Tei F. (1996)
    Prediction of yield losses using relative leaf area models
    in Second International Weed Control Congress, Copenhagen, 25-28 giugno 1996
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Lotz L.A.P., Christensen S., Cloutier D., Fernandez Quintanilla C., Légère A., Lemieux C., Lutman P.J.W., Pardo Iglesias A., Salonen J., Sattin M., Stigliani L., Tei F. (literal)
Pagina inizio
  • 61 (literal)
Pagina fine
  • 66 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali
  • 6 (literal)
Note
  • Google Scholar (literal)
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • DLO, Wageningen, NL Dept of weed science and pesticide science, Flakkeebjerg, DK Agriculture Canada, Québec, Canada CCMS, Madrid, Spagna Saskatoon research centre, Canada RRES, UK Agriculture Research Centre, Jokioinen, Finlandia IBAF-CNR (literal)
Titolo
  • Prediction of yield losses using relative leaf area models (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn
  • 87-984996-1-0 (literal)
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