Reliability of RF MEMS Capacitive and Ohmic Switches for Space Redundancy Configurations (Contributo in atti di convegno)

Type

• Contributo in atti di convegno (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Reliability of RF MEMS Capacitive and Ohmic Switches for Space Redundancy Configurations (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2013-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Andrea Lucibello, Romolo Marcelli, Emanuela Proietti, Giancarlo Bartolucci, Viviana Mulloni, Benno Margesin (2013)
  Reliability of RF MEMS Capacitive and Ohmic Switches for Space Redundancy Configurations
  in DTIP 2013, SYMPOSIUM on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS, Barcelona, Spain, 16-18 April 2013
  (literal)

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• Andrea Lucibello, Romolo Marcelli, Emanuela Proietti, Giancarlo Bartolucci, Viviana Mulloni, Benno Margesin (literal)

Pagina inizio

• 167 (literal)

Pagina fine

• 172 (literal)

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• http://www.eda-publishing.org/Proceedings/DTIP2013%20_%20Proceedings.pdf (literal)

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• Proceedings of DTIP 2013, SYMPOSIUM on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS, Barcelona, 16-18 April 2013. (literal)

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• 6 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• CNR-IMM Roma University of Roma \"Tor Vergata\" FBK-irst (literal)

Titolo

• Reliability of RF MEMS Capacitive and Ohmic Switches for Space Redundancy Configurations (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn

• 978-2-35500-025-6 (literal)

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• AA.VV. (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume

• Chair: Bernard COURTOIS, CMP, Grenoble, France Co-Chair: Jean Michel KARAM, MEMSCAP, Bernin, France (literal)

Abstract

• In this paper RF MEMS switches in coplanar waveguide (CPW) configuration designed for redundancy space applications have been analyzed, to demonstrate their reliability in terms of microwave performances when subjected to DC actuations up to one million cycles. As a result, both the investigated structures fulfill the current electrical requirements expected for redundancy logic purposes. (literal)

Editore

• EDA Publishing Association (Editore)

Prodotto di

• Microsistemi ad Alta Frequenza: Tecnologie ed Affidabilità per Applicazioni di Terra e Spaziali (MD.P05.020.001) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• ROMOLO MARCELLI (Persona)
• EMANUELA PROIETTI (Persona)
• GIANCARLO BARTOLUCCI (Unità di personale esterno)
• ANDREA LUCIBELLO (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Reliability of RF MEMS Capacitive and Ohmic Switches for Space Redundancy Configurations" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• ROMOLO MARCELLI (Persona)
• EMANUELA PROIETTI (Persona)
• GIANCARLO BARTOLUCCI (Unità di personale esterno)
• ANDREA LUCIBELLO (Unità di personale interno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Microsistemi ad Alta Frequenza: Tecnologie ed Affidabilità per Applicazioni di Terra e Spaziali (MD.P05.020.001) (Modulo)

Editore di

• EDA Publishing Association (Editore)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Reliability of RF MEMS Capacitive and Ohmic Switches for Space Redundancy Configurations" (Insieme di parole chiave)