Reliability and Power Handling Issues in Ohmic Series and Shunt Capacitive RF MEMS Switches for Space Applications (Contributo in volume (capitolo o saggio))

Type

• Contributo in volume (capitolo o saggio) (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Reliability and Power Handling Issues in Ohmic Series and Shunt Capacitive RF MEMS Switches for Space Applications (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (literal)

Anno

• 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Simone Catoni, Sergio Di Nardo, Paola Farinelli, Flavio Giacomozzi, Giovanni Mannocchi, Romolo Marcelli, Benno Margesin, Paolo Mezzanotte, Viviana Mulloni, Roberto Sorrentino, Francesco Vitulli, Larissa Vietzorreck (2007)
  Reliability and Power Handling Issues in Ohmic Series and Shunt Capacitive RF MEMS Switches for Space Applications
  Editura Academiei Române, Bucuresti (Romania) in Emerging Technologies for RF and Millimeter Waves Circuits, 2007
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Simone Catoni, Sergio Di Nardo, Paola Farinelli, Flavio Giacomozzi, Giovanni Mannocchi, Romolo Marcelli, Benno Margesin, Paolo Mezzanotte, Viviana Mulloni, Roberto Sorrentino, Francesco Vitulli, Larissa Vietzorreck (literal)

Pagina inizio

• 95 (literal)

Pagina fine

• 102 (literal)

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• http://www.nano-link.net/mne/index.htm (literal)

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• Emerging Technologies for RF and Millimeter Waves Circuits (literal)

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• 10 (literal)

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• 8 (literal)

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• CNR-IMM UOS Roma University of Perugia FBK-irst, Trento Thales Alenia Space Italia TUM Munchen, Germany (literal)

Titolo

• Reliability and Power Handling Issues in Ohmic Series and Shunt Capacitive RF MEMS Switches for Space Applications (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn

• 978-973-27-1524-6 (literal)

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• AA.VV. (literal)

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• Roberto Sorrentino, Alexandru Müller, Dan Dascalu (literal)

Abstract

• RF MEMS series and shunt switches in coplanar waveguide configuration have been tested to check their reliability in terms of technological yield, neumber of cycles and total time during which they are actuated. Power handling has beeb also considered, up to 5 watt. (literal)

Editore

• Editura Academiei Române (Editore)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Microsistemi ad Alta Frequenza: Tecnologie ed Affidabilità per Applicazioni di Terra e Spaziali (MD.P05.020.001) (Modulo)

Autore CNR

• SIMONE CATONI (Unità di personale esterno)
• ROMOLO MARCELLI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Reliability and Power Handling Issues in Ohmic Series and Shunt Capacitive RF MEMS Switches for Space Applications" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• ROMOLO MARCELLI (Persona)
• SIMONE CATONI (Unità di personale esterno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Microsistemi ad Alta Frequenza: Tecnologie ed Affidabilità per Applicazioni di Terra e Spaziali (MD.P05.020.001) (Modulo)

Editore di

• Editura Academiei Române (Editore)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Reliability and Power Handling Issues in Ohmic Series and Shunt Capacitive RF MEMS Switches for Space Applications" (Insieme di parole chiave)