Quantum efficiency measurements of an uncoated CEM in the range 0.14-160 nm (9 keV-8 eV) (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Quantum efficiency measurements of an uncoated CEM in the range 0.14-160 nm (9 keV-8 eV) (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 1998-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1088/0963-9659/7/4/001 (literal)

Alternative label

• Boscolo, A; Placentino, L; Poletto, L (1998)
  Quantum efficiency measurements of an uncoated CEM in the range 0.14-160 nm (9 keV-8 eV)
  in Journal of optics. A, Pure and applied optics (Print)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Boscolo, A; Placentino, L; Poletto, L (literal)

Pagina inizio

• L43 (literal)

Pagina fine

• L48 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 7 (literal)

Rivista

• Journal of optics. A, Pure and applied optics (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• UNIV PADUA,DEPT ELECT & INFORMAT,VIA GRADENIGO 6-A,I-35131 PADUA,ITALY. CNR-Istituto di Fotonica e Nanotecnologie (literal)

Titolo

• Quantum efficiency measurements of an uncoated CEM in the range 0.14-160 nm (9 keV-8 eV) (literal)

Abstract

• The quantum efficiency of an uncoated channel electron multiplier (CEM) working in the photon-counting regime has been evaluated over a wide spectral range. which comprises the EUV and soft x-ray regions. Three different experimental set-ups have been used: a Johnson-Onaka monochromator for the 30-160 nm region,a grazing incidence monochromator for the 0.3-30 nm region and a test facility mounting filters for the 0.14-0.3 nm region. As a secondary standard, both silicon and aluminium photodiodes have been used. The efficiency has been evaluated at normal incidence angle. The measured values range from 2% to 15% in the range 0.14-100 nm, while a rapid decrease is present over 120 nm. Changes in the efficiency due to carbon contamination in the vacuum system are discussed, and also effects due to variations of the illuminated area on the CEM entrance cone. (literal)

Prodotto di

• MD.P03.010.001 Sviluppo di strumentazione ottica e fotonica (Vis-UV-XUV-X) per impieghi scientifici (spaziali e radiazione di sincrotrone) ed industriali (MD.P03.010.002) (Modulo)
• Istituto di fotonica e nanotecnologie (IFN) (Istituto)

Autore CNR

• LUCA POLETTO (Persona)

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Prodotto

• Istituto di fotonica e nanotecnologie (IFN) (Istituto)
• MD.P03.010.001 Sviluppo di strumentazione ottica e fotonica (Vis-UV-XUV-X) per impieghi scientifici (spaziali e radiazione di sincrotrone) ed industriali (MD.P03.010.002) (Modulo)

Autore CNR di

• LUCA POLETTO (Persona)

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• Journal of optics. A, Pure and applied optics (Rivista)