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Characterization of 3C-SiC grown on Si substrates with different conductivity (Abstract/Poster in convegno)
- Type
- Label
- Characterization of 3C-SiC grown on Si substrates with different conductivity (Abstract/Poster in convegno) (literal)
- Anno
- 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
C. Frigeri, G. Attolini, M. Bosi, B. Watts (2007)
Characterization of 3C-SiC grown on Si substrates with different conductivity
in DRIP XII, 12th International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, Berlin (D), 9 - 13 sett. 2007
(literal)
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- C. Frigeri, G. Attolini, M. Bosi, B. Watts (literal)
- Pagina inizio
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- Note
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- CNR-IMEM Institute, Parco Area delle Scienze 37/A, 43100 Parma, Italy (literal)
- Titolo
- Characterization of 3C-SiC grown on Si substrates with different conductivity (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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