Preface (Prefazione/Postfazione)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Prefazione/Postfazione (Classe)

Label

• Preface (Prefazione/Postfazione) (literal)

Anno

• 2002-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• C. Frigeri (2002)
  Preface
  ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS, AMSTERDAM (Paesi Bassi) in Proceedings of the Ninth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX), 2002
  (literal)

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• C. Frigeri (literal)

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• This issue of 'Materials Science and Engineering B' contains the papers presented at the Ninth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX), held in Rimini, Italy, from 24th to 28th September, 2001. (literal)

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• Proceedings of the Ninth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX) (literal)

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• B91-92 (literal)

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• C. Frigeri (literal)

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• CNR-MASPEC Institute, Fontanini, Parco Area delle Scienze 37/A, 43010 Parma, Italy (literal)

Titolo

• Preface (literal)

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• C. Frigeri (literal)

Editore

• ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS (Editore)

Prodotto di

• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)
• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)

Autore CNR

• CESARE FRIGERI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Preface" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)

Autore CNR di

• CESARE FRIGERI (Persona)

Editore di

• ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS (Editore)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Preface" (Insieme di parole chiave)