Texture of submicron Ni-Mn-Ga films studied by X-ray diffraction at the ANKA synchrotron source (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Texture of submicron Ni-Mn-Ga films studied by X-ray diffraction at the ANKA synchrotron source (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• V.A. Chernenko (1) , S. Doyle (2) , M. Kohl (3) , P. Müllner (4) , S. Besseghini (5) , M. Ohtsuka. (6) (2007)
  Texture of submicron Ni-Mn-Ga films studied by X-ray diffraction at the ANKA synchrotron source
  in Zeitschrift für Kristallographie; Oldenbourg Verlag, Munich (Germania)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• V.A. Chernenko (1) , S. Doyle (2) , M. Kohl (3) , P. Müllner (4) , S. Besseghini (5) , M. Ohtsuka. (6) (literal)

Pagina inizio

• 229 (literal)

Pagina fine

• 234 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 26 (literal)

Rivista

• Zeitschrift für Kristallographie (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note

• da 481 a 482 da 271 a 274 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 6 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• [ 1 ] Inst Magnetism, UA-03142 Kiev, Ukraine [ 2 ] Forschungszentrum Karlsruhe, ANKA, D-76021 Karlsruhe, Germany [ 3 ] Forschungszentrum Karlsruhe, IMT, D-76021 Karlsruhe, Germany [ 4 ] Boise State Univ, Dept Mat Sci & Engn, Boise, ID 83725 USA [ 5 ] CNR IENI, I-23900 Lecce, Italy [ 6 ] Tohoku Univ, IMRAM, Sendai, Miyagi 9808577, Japan (literal)

Titolo

• Texture of submicron Ni-Mn-Ga films studied by X-ray diffraction at the ANKA synchrotron source (literal)

Abstract

• Texture measurements of two series of Ni-Mn-Ga thin films, sputter-deposited on Mo foils, are performed as a function of both film and substrate thickness. X-ray diffraction experiments were carried out at the SR source ANKA in Germany. In contrast to 1 mu m-thick films showing 220-fibre texture, both in-plane and out-of-plane texture components are found in submicron films which correlates with the enhanced magnetostrain effect in these films. (literal)

Editore

• Oldenbourg Verlag (Editore)

Prodotto di

• Institute of Condensed Matter Chemistry and Energy Technologies (ICMATE) (Istituto)
• X TRANSIZIONE PD-LC Leghe a memoria di forma e termoelettrici per la funzionalizzazione di sistemi nell'energia e nei trasporti per applicazioni orientate al consumatore (ET.P06.004.001) (Modulo)

Autore CNR

• STEFANO BESSEGHINI (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Institute of Condensed Matter Chemistry and Energy Technologies (ICMATE) (Istituto)
• X TRANSIZIONE PD-LC Leghe a memoria di forma e termoelettrici per la funzionalizzazione di sistemi nell'energia e nei trasporti per applicazioni orientate al consumatore (ET.P06.004.001) (Modulo)

Autore CNR di

• STEFANO BESSEGHINI (Unità di personale interno)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Zeitschrift für Kristallographie (Rivista)

Editore di

• Oldenbourg Verlag (Editore)