http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID216264
Extended characterization of the stress fields in the heteroepitaxial growth of 3C-SiC on silicon for sensors and device applications (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Extended characterization of the stress fields in the heteroepitaxial growth of 3C-SiC on silicon for sensors and device applications (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2012-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.4028/www.scientific.net/MSF.717-720.517 (literal)
- Alternative label
Camarda, M. and Anzalone, R. and Piluso, N. and Severino, A. and Canino, A. and La Via, F. and La Magna, A. (2012)
Extended characterization of the stress fields in the heteroepitaxial growth of 3C-SiC on silicon for sensors and device applications
in Materials science forum
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Camarda, M. and Anzalone, R. and Piluso, N. and Severino, A. and Canino, A. and La Via, F. and La Magna, A. (literal)
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- Pagina fine
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- Rivista
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- Titolo
- Extended characterization of the stress fields in the heteroepitaxial growth of 3C-SiC on silicon for sensors and device applications (literal)
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