Study of microstructure deflections and film/substrate curvature under generalized stress fields and mechanical properties (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Study of microstructure deflections and film/substrate curvature under generalized stress fields and mechanical properties (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2012-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1016/j.tsf.2012.02.014 (literal)
Alternative label
  • Camarda, M. and Anzalone, R. and La Magna, A. and La Via, F. (2012)
    Study of microstructure deflections and film/substrate curvature under generalized stress fields and mechanical properties
    in Thin solid films (Print)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Camarda, M. and Anzalone, R. and La Magna, A. and La Via, F. (literal)
Pagina inizio
  • 26 (literal)
Pagina fine
  • 29 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 522 (literal)
Rivista
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • CNR-IMM (literal)
Titolo
  • Study of microstructure deflections and film/substrate curvature under generalized stress fields and mechanical properties (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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