Secondary ion mass spectrometry in the characterisation of boron-based ceramics (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Secondary ion mass spectrometry in the characterisation of boron-based ceramics (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2001-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1002/1097-0231(20010115)15:1<1::AID-RCM183>3.0.CO;2-I (literal)
Alternative label
  • Daolio S., Fabrizio M., Piccirillo C., Muolo M.L., Passerone A., Bellosi A. (2001)
    Secondary ion mass spectrometry in the characterisation of boron-based ceramics
    in RCM. Rapid communications in mass spectrometry
    (literal)
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  • Daolio S., Fabrizio M., Piccirillo C., Muolo M.L., Passerone A., Bellosi A. (literal)
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  • 1 (literal)
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  • 7 (literal)
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  • I.F. 2.372; Times Cited 4 (literal)
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  • 15 (literal)
Rivista
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  • 1 (literal)
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  • Caratterizzazione per spettrometria di massa ioni secondari (SIMS) delle interfacce tra ceramici speciali a base di boruri di Ti e Zr per la messa a punto di processi di brasatura metallo-ceramico per la realizzazione di schermi termici operanti ad alte temperature. (literal)
Note
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
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  • IENI-Padova, CNR, Corso Stati Uniti 4, 35127 Padova, Italy IENI-Genova, CNR, Via de' Marini 6, 16149 Genova, Italy ISTEC-Faenza, CNR, Via Granarolo 64, 48018 Faenza, Italy (literal)
Titolo
  • Secondary ion mass spectrometry in the characterisation of boron-based ceramics (literal)
Abstract
  • A secondary ion mass spectrometry (SIMS) study of Zr- and Ti-based borides is reported: ZrB2 ceramic samples (with and without nickel addition) and a TiB2-Ni-B4C/Cu joint were investigated. For Zr-based samples, SIMS measurements show evidence for induced effects by the presence of nickel with regard to oxygen and hydrogen absorption and zirconia formation. In the case of the TiB2Ni-B4C/Cu joint, the ceramic-metal interface region was analysed and the extent of Cu diffusion into the ceramic material was established. SIMS results were in agreement with previously obtained SEM-EDS data. (literal)
Prodotto di
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