QUANTITATIVE-ANALYSIS OF ALXGA1-XAS/GAAS MULTIQUANTUM WELLS BY MEANS OF AES DEPTH PROFILING AND SMALL AREA XPS (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• QUANTITATIVE-ANALYSIS OF ALXGA1-XAS/GAAS MULTIQUANTUM WELLS BY MEANS OF AES DEPTH PROFILING AND SMALL AREA XPS (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 1993-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1016/0169-4332(93)90404-Y (literal)

Alternative label

• J. Olivier, G. Padeletti, G.M. Ingo, G. Mattogno, A. Bosacchi, S. Franchi (1993)
  QUANTITATIVE-ANALYSIS OF ALXGA1-XAS/GAAS MULTIQUANTUM WELLS BY MEANS OF AES DEPTH PROFILING AND SMALL AREA XPS
  in Applied surface science
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• J. Olivier, G. Padeletti, G.M. Ingo, G. Mattogno, A. Bosacchi, S. Franchi (literal)

Pagina inizio

• 89 (literal)

Pagina fine

• 93 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 70-1 (literal)

Rivista

• Applied surface science (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 5 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• J. Olivier [1], G. Padeletti [2], G.M. Ingo [2], G. Mattogno [2], A. Bosacchi [3], S. Franchi [3] [1] Thomson-CSF (LCR), 91404 Orsay Cedex, France [2] CNR, ISTITUTO DI TEORIA & STRUTTURA ELETTRONICA, AREA DELLA RICERCA DI ROMA, CP 10, 00016 MONTEROTONDO STAZIONE, ROME, ITALY [2] CNR, ISTITUTO MASPEC, Parma, Italy (literal)

Titolo

• QUANTITATIVE-ANALYSIS OF ALXGA1-XAS/GAAS MULTIQUANTUM WELLS BY MEANS OF AES DEPTH PROFILING AND SMALL AREA XPS (literal)

Abstract

• By means of Auger electron spectroscopy (AES) depth profiling and small area X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), the chemical composition of the AlxGa1-xAs layer in a series of reference AlxGa1-xAs/GaAs (0.15

Prodotto di

• Sintesi e crescita di film e superfici nanostrutturate (PM.P05.004.002) (Modulo)
• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)

Autore CNR

• GABRIEL MARIA INGO (Unità di personale interno)
• GIUSEPPINA PADELETTI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "QUANTITATIVE-ANALYSIS OF ALXGA1-XAS/GAAS MULTIQUANTUM WELLS BY MEANS OF AES DEPTH PROFILING AND SMALL AREA XPS" (Insieme di parole chiave)

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Prodotto

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)
• Sintesi e crescita di film e superfici nanostrutturate (PM.P05.004.002) (Modulo)

Autore CNR di

• GIUSEPPINA PADELETTI (Persona)
• GABRIEL MARIA INGO (Unità di personale interno)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Applied surface science (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "QUANTITATIVE-ANALYSIS OF ALXGA1-XAS/GAAS MULTIQUANTUM WELLS BY MEANS OF AES DEPTH PROFILING AND SMALL AREA XPS" (Insieme di parole chiave)