XPS investigation of impurity phase segregation in 25.5 wt.% CeO2-2.5 Y2O3-72 ZrO2 plasma-sprayed thermal barrier coatings (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• XPS investigation of impurity phase segregation in 25.5 wt.% CeO2-2.5 Y2O3-72 ZrO2 plasma-sprayed thermal barrier coatings (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 1990-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1002/sia.740160193 (literal)

Alternative label

• M. Arfelli, G.M. Ingo, G. Mattogno (1990)
  XPS investigation of impurity phase segregation in 25.5 wt.% CeO2-2.5 Y2O3-72 ZrO2 plasma-sprayed thermal barrier coatings
  in SIA. Surface and interface analysis
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• M. Arfelli, G.M. Ingo, G. Mattogno (literal)

Pagina inizio

• 452 (literal)

Pagina fine

• 456 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 16 (literal)

Rivista

• SIA. Surface and interface analysis (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 5 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 1-12 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• M. Arfelli, G.M. Ingo, G. Mattogno CNR, ISTITUTO DI TEORIA & STRUTTURA ELETTRONICA, AREA DELLA RICERCA DI ROMA, CP 10, 00016 MONTEROTONDO STAZIONE, ROME, ITALY (literal)

Titolo

• XPS investigation of impurity phase segregation in 25.5 wt.% CeO2-2.5 Y2O3-72 ZrO2 plasma-sprayed thermal barrier coatings (literal)

Abstract

• X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), angular-dependent XPS and x-ray-induced Auger electron spectroscopy (XAES) have been used to investigate impurity (Si, Na and Al) segregation in 25.5 wt.% CeO2-2.5 Y2O3-72 ZrO2 plasma-sprayed thermal barrier coatings (TBCs) as a function of high-temperature air thermal treatment (up to 1460°C). The segregated phase, present in a similar composition both on the as-thermally treated and fracture surfaces, forms a thin layer of approximately 20 nm thick. This phase contains both silicon and sodium at a temperature ranging between 900 and 1350°C and it is also enriched with aluminium at higher temperatures. The XPS and XAES results are used to identify the chemical composition of this surface phase. (literal)

Prodotto di

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)
• Sintesi e crescita di film e superfici nanostrutturate (PM.P05.004.002) (Modulo)

Autore CNR

• GABRIEL MARIA INGO (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "XPS investigation of impurity phase segregation in 25.5 wt.% CeO2-2.5 Y2O3-72 ZrO2 plasma-sprayed thermal barrier coatings" (Insieme di parole chiave)

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Prodotto

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)
• Sintesi e crescita di film e superfici nanostrutturate (PM.P05.004.002) (Modulo)

Autore CNR di

• GABRIEL MARIA INGO (Unità di personale interno)

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• SIA. Surface and interface analysis (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "XPS investigation of impurity phase segregation in 25.5 wt.% CeO2-2.5 Y2O3-72 ZrO2 plasma-sprayed thermal barrier coatings" (Insieme di parole chiave)