Depth profiling of InxGa1-xAs/GaAs quantum wells (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Depth profiling of InxGa1-xAs/GaAs quantum wells (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 1995-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• M.R. Bruni, S. Kaciulis, F. Martelli, G. Mattogno, M.G. Simeone, G. Treideris, S. Viticoli (1995)
  Depth profiling of InxGa1-xAs/GaAs quantum wells
  in Vuoto (Bologna)
  (literal)

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• M.R. Bruni, S. Kaciulis, F. Martelli, G. Mattogno, M.G. Simeone, G. Treideris, S. Viticoli (literal)

Pagina inizio

• 47 (literal)

Pagina fine

• 50 (literal)

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• 24 (literal)

Rivista

• Vuoto (Rivista)

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• 1 (literal)

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• ICMAT - CNR, Roma, Italy, Semicond. Phys. Inst., Vilnius, Lithuania (literal)

Titolo

• Depth profiling of InxGa1-xAs/GaAs quantum wells (literal)

Prodotto di

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)

Autore CNR

• FAUSTINO MARTELLI (Unità di personale interno)
• SESTO VITICOLI (Persona)
• SAULIUS KACIULIS (Persona)
• MARIA RITA BRUNI (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)

Autore CNR di

• FAUSTINO MARTELLI (Unità di personale interno)
• SAULIUS KACIULIS (Persona)
• SESTO VITICOLI (Persona)
• MARIA RITA BRUNI (Unità di personale interno)

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• Vuoto (Rivista)