Properties of CuxS thin film based structures: influence on the sensitivity to ammonia at room temperatures (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Properties of CuxS thin film based structures: influence on the sensitivity to ammonia at room temperatures (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2001-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1016/S0040-6090(01)00995-6 (literal)

Alternative label

• A. Setkus, A. Galdikas, A. Mironas, I. Simkiene, I. Ancutiene, V. Janickis, S. Kaciulis, G. Mattogno, G.M. Ingo (2001)
  Properties of CuxS thin film based structures: influence on the sensitivity to ammonia at room temperatures
  in Thin solid films (Print); ELSEVIER SCIENCE SA, PO BOX 564, 1001 LAUSANNE (Svizzera)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• A. Setkus, A. Galdikas, A. Mironas, I. Simkiene, I. Ancutiene, V. Janickis, S. Kaciulis, G. Mattogno, G.M. Ingo (literal)

Pagina inizio

• 275 (literal)

Pagina fine

• 281 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 39 (literal)

Rivista

• Thin solid films (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 7 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 2 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• A. Setkus [1], A. Galdikas [1], A. Mironas [1], I. Simkiene [1], I. Ancutiene [2], V. Janickis [2], S. Kaciulis [3], G. Mattogno [3], G.M. Ingo [3] [1] Semiconductor Physics Institute, A. Go?stauto 11, LT-2600 Vilnius, Lithuania [2] Kaunas Uni?ersity of Technology, K. Donelaicio 73, LT-3006 Kaunas, Lithuania [3] Istituto di Chimica dei Materiali, CNR, P.O. Box 10, I-00016 Monterotondo Scalo (RM), Italy (literal)

Titolo

• Properties of CuxS thin film based structures: influence on the sensitivity to ammonia at room temperatures (literal)

Abstract

• Surface and electrical properties of thin CuxS films grown on different substrates (polyethylene and micro-porous-Si layer) sensitive to ammonia at room temperature are investigated. The resistance response to ammonia is measured in the CuxS in air with relative humidity from 15 to 100% at temperatures from 290 to 350 K. The surface chemical composition and the morphology are analysed. A honeycombed construction of the CuxS films deposited on a micro-porous Si-layer and proportions between components in the chemical composition are found to correlate with the higher sensitivity to ammonia in air at room temperature. (C) 2001 Elsevier Science B.V. All rights reserved. (literal)

Editore

• ELSEVIER SCIENCE SA (Editore)

Prodotto di

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)
• Sintesi e crescita di film e superfici nanostrutturate (PM.P05.004.002) (Modulo)

Autore CNR

• GIULIA MATTOGNO (Persona)
• SAULIUS KACIULIS (Persona)
• GABRIEL MARIA INGO (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Properties of CuxS thin film based structures: influence on the sensitivity to ammonia at room temperatures" (Insieme di parole chiave)

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Prodotto

• Istituto per lo studio dei materiali nanostrutturati (ISMN) (Istituto)
• Sintesi e crescita di film e superfici nanostrutturate (PM.P05.004.002) (Modulo)

Autore CNR di

• SAULIUS KACIULIS (Persona)
• GABRIEL MARIA INGO (Unità di personale interno)
• GIULIA MATTOGNO (Persona)

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• Thin solid films (Rivista)

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• ELSEVIER SCIENCE SA (Editore)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "Properties of CuxS thin film based structures: influence on the sensitivity to ammonia at room temperatures" (Insieme di parole chiave)