Effects of a post-oxidation annealing in nitrous oxide on the morphological and electrical properties of SiO2/4H-SiC interfaces (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Effects of a post-oxidation annealing in nitrous oxide on the morphological and electrical properties of SiO2/4H-SiC interfaces (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2013-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.4028/www.scientific.net/MSF.740-742.715 (literal)
Alternative label
  • L.K. Swanson, P. Fiorenza, F. Giannazzo, S. Alessandrino, S. Lorenti , F. Roccaforte (2013)
    Effects of a post-oxidation annealing in nitrous oxide on the morphological and electrical properties of SiO2/4H-SiC interfaces
    in Materials science forum
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • L.K. Swanson, P. Fiorenza, F. Giannazzo, S. Alessandrino, S. Lorenti , F. Roccaforte (literal)
Pagina inizio
  • 715 (literal)
Pagina fine
  • 718 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 740-742 (literal)
Rivista
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • CNR-IMM, Catania, Italy STMicroelectronics, Catania, Italy (literal)
Titolo
  • Effects of a post-oxidation annealing in nitrous oxide on the morphological and electrical properties of SiO2/4H-SiC interfaces (literal)
Prodotto di
Autore CNR

Incoming links:


Autore CNR di
Prodotto
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi
data.CNR.it