Fractal characteristics of far-field diffraction patterns for two-dimensional Thue-Morse quasicrystals (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Fractal characteristics of far-field diffraction patterns for two-dimensional Thue-Morse quasicrystals (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1007/s11801-011-1057-0 (literal)

Alternative label

• Yang M-y. [ 1 ] ; Zhou J. [ 1 ] ; Petti L. [ 2 ] ; De Nicola S. [ 3 ] ; Mormile P. [ 2 ] (2011)
  Fractal characteristics of far-field diffraction patterns for two-dimensional Thue-Morse quasicrystals
  in Optoelectronics letters (Online)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Yang M-y. [ 1 ] ; Zhou J. [ 1 ] ; Petti L. [ 2 ] ; De Nicola S. [ 3 ] ; Mormile P. [ 2 ] (literal)

Pagina inizio

• 0346 (literal)

Pagina fine

• 0349 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 7 (literal)

Rivista

• Optoelectronics letters (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 5 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• [ 1 ] Institute of Photonics, Faculty of Science, Ningbo University, Ningbo 315211, China; [ 2 ] Istituto di Cibernetica \"E. Caianiello\" del Consiglio Nazionale delle Ricerche, Via Campi Flegrei 34, Pozzuoli (Na) 80078, Italy; [ 3 ] Istituto Nazionale di Ottica del Consiglio Nazionale delle Ricerche, Via Campi Flegrei 34, Pozzuoli (Na) 80078, Italy (literal)

Titolo

• Fractal characteristics of far-field diffraction patterns for two-dimensional Thue-Morse quasicrystals (literal)

Abstract

• We report a numerical method to analyze the fractal characteristics of far-field diffraction patterns for two-dimensional Thue-Morse (2-D TM) structures. The far-field diffraction patterns of the 2-D TM structures can be obtained by the numerical method, and they have a good agreement with the experimental ones. The analysis shows that the fractal characteristics of far-field diffraction patterns for the 2-D TM structures are determined by the inflation rule, which have potential applications in the design of optical diffraction devices. (literal)

Prodotto di

• Sviluppo di tecniche di diagnostica ottica, microscopia ed interferometria (MD.P03.022.001) (Modulo)
• Istituto di cibernetica \"Edoardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)

Autore CNR

• LUCIA PETTI (Unità di personale interno)
• PASQUALE MORMILE (Unità di personale interno)
• SERGIO DE NICOLA (Persona)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Fractal characteristics of far-field diffraction patterns for two-dimensional Thue-Morse quasicrystals" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• LUCIA PETTI (Unità di personale interno)
• SERGIO DE NICOLA (Persona)
• PASQUALE MORMILE (Unità di personale interno)

Prodotto

• Istituto di cibernetica \"Edoardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)
• Sviluppo di tecniche di diagnostica ottica, microscopia ed interferometria (MD.P03.022.001) (Modulo)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Optoelectronics letters (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "Fractal characteristics of far-field diffraction patterns for two-dimensional Thue-Morse quasicrystals" (Insieme di parole chiave)