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Fractal characteristics of far-field diffraction patterns for two-dimensional Thue-Morse quasicrystals (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Fractal characteristics of far-field diffraction patterns for two-dimensional Thue-Morse quasicrystals (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1007/s11801-011-1057-0 (literal)
- Alternative label
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Yang M-y. [ 1 ] ; Zhou J. [ 1 ] ; Petti L. [ 2 ] ; De Nicola S. [ 3 ] ; Mormile P. [ 2 ] (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
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- Rivista
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- [ 1 ] Institute of Photonics, Faculty of Science, Ningbo University, Ningbo 315211, China;
[ 2 ] Istituto di Cibernetica \"E. Caianiello\" del Consiglio Nazionale delle Ricerche, Via Campi Flegrei 34, Pozzuoli (Na) 80078, Italy;
[ 3 ] Istituto Nazionale di Ottica del Consiglio Nazionale delle Ricerche, Via Campi Flegrei 34, Pozzuoli (Na) 80078, Italy (literal)
- Titolo
- Fractal characteristics of far-field diffraction patterns for two-dimensional Thue-Morse quasicrystals (literal)
- Abstract
- We report a numerical method to analyze the fractal characteristics of far-field diffraction patterns for two-dimensional Thue-Morse (2-D TM) structures. The far-field diffraction patterns of the 2-D TM structures can be obtained by the numerical method, and they have a good agreement with the experimental ones. The analysis shows that the fractal characteristics of far-field diffraction patterns for the 2-D TM structures are determined by the inflation rule, which have potential applications in the design of optical diffraction devices. (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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