Photocurrent spectroscopy of ion-implanted organic thin film transistors (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Photocurrent spectroscopy of ion-implanted organic thin film transistors (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2012-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1016/j.synthmet.2011.09.017 (literal)

Alternative label

• Fraboni B, Scida A, Cavallini A, Milita S, Cosseddu P, Bonfiglio A, Wang Y, Nastasi M (2012)
  Photocurrent spectroscopy of ion-implanted organic thin film transistors
  in Synthetic metals
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Fraboni B, Scida A, Cavallini A, Milita S, Cosseddu P, Bonfiglio A, Wang Y, Nastasi M (literal)

Pagina inizio

• 2585 (literal)

Pagina fine

• 2588 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#url

• http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0379677911004048 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 161 (literal)

Rivista

• Synthetic metals (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 4 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 23-24 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• [ 1 ] Univ Bologna, Dipartimento Fis, I-40127 Bologna, Italy [ 2 ] CNR IMM, I-40129 Bologna, Italy [ 3 ] Univ Cagliari, Dipartimento Ingn Elettr & Elettron, I-09123 Cagliari, Italy [ 4 ] CNR IMM S3, I-41100 Modena, Italy [ 5 ] Los Alamos Natl Lab, Los Alamos, NM 87545 USA (literal)

Titolo

• Photocurrent spectroscopy of ion-implanted organic thin film transistors (literal)

Abstract

• In this paper we investigate the distribution of the electrically available states near the band-edge in pentacene thin films of different thicknesses, aiming to the identification of the active thickness of pentacene layers in fully operational devices such as organic thin film transistors (OTFTs). The film structure has been studied by X-ray diffraction technique, while their relative electronic density of states distribution (DOS) around the band-edge has been investigated by photocurrent (PC) spectroscopy analyses. The effects of ion implantation on OTFTs have been investigated by PC analyses of OTFTs implanted with N+ ions of different energy and doses. We show how PC spectroscopy has the remarkable ability to detect modifications of the DOS distribution in a non invasive way, thus allowing the direct study of the active semiconductor film in fully operational OTFTs. (literal)

Prodotto di

• Nanobiosistemi (MD.P06.010.002) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)

Autore CNR

• SILVIA MILITA (Persona)
• PIERO COSSEDDU (Unità di personale esterno)
• ANNALISA BONFIGLIO (Persona)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Photocurrent spectroscopy of ion-implanted organic thin film transistors" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• SILVIA MILITA (Persona)
• ANNALISA BONFIGLIO (Persona)
• PIERO COSSEDDU (Unità di personale esterno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)
• Nanobiosistemi (MD.P06.010.002) (Modulo)

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• Synthetic metals (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "Photocurrent spectroscopy of ion-implanted organic thin film transistors" (Insieme di parole chiave)