Convergent beam electron-diffraction investigation of lattice mismatch and static disorder in GaAs/GaAs1-xNx intercalated GaAs/GaAs1-xNx (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Convergent beam electron-diffraction investigation of lattice mismatch and static disorder in GaAs/GaAs1-xNx intercalated GaAs/GaAs1-xNx (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2012-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1063/1.4752464 (literal)

Alternative label

• Frabboni S, Grillo V, Gazzadi GC, Balboni R, Trotta R, Polimeni A, Capizzi M, Martelli F, Rubini S, Guzzinati G, Glas F (2012)
  Convergent beam electron-diffraction investigation of lattice mismatch and static disorder in GaAs/GaAs1-xNx intercalated GaAs/GaAs1-xNx
  in Applied physics letters
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Frabboni S, Grillo V, Gazzadi GC, Balboni R, Trotta R, Polimeni A, Capizzi M, Martelli F, Rubini S, Guzzinati G, Glas F (literal)

Pagina inizio

• 111912-1 (literal)

Pagina fine

• 111912-4 (literal)

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• http://apl.aip.org/resource/1/applab/v101/i11/p111912_s1 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 101 (literal)

Rivista

• Applied physics letters (Rivista)

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• 4 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 11 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• [ 1 ] Univ Modena & Reggio Emilia, Dipartimento Fis, I-41125 Modena, Italy [ 2 ] CNR, Ist Nanosci Modena S3, I-41125 Modena, Italy [ 3 ] CNR, IMM Bologna, I-40129 Bologna, Italy [ 4 ] Univ Roma La Sapienza, Dipartimento Fis, I-00185 Rome, Italy [ 5 ] IOM CNR, I-34012 Trieste, Italy [ 6 ] IMM CNR, I-00133 Rome, Italy [ 7 ] Univ Antwerp, EMAT, B-2020 Antwerp, Belgium [ 8 ] CNRS, Lab Photon & Nanostruct, F-91460 Marcoussis, France (literal)

Titolo

• Convergent beam electron-diffraction investigation of lattice mismatch and static disorder in GaAs/GaAs1-xNx intercalated GaAs/GaAs1-xNx (literal)

Abstract

• Hydrogen incorporation in diluted nitride semiconductors dramatically modifies the electronic and structural properties of the crystal through the creation of nitrogen-hydrogen complexes. We report a convergent beam electron-diffraction characterization of diluted nitride semiconductor-heterostructures patterned at a sub-micron scale and selectively exposed to hydrogen. We present a method to determine separately perpendicular mismatch and static disorder in pristine and hydrogenated heterostructures. The roles of chemical composition and strain on static disorder have been separately assessed. (literal)

Prodotto di

• MD.P06.017.002 Sintesi e studio di nanostrutture (MD.P06.017.006) (Modulo)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Materiali nanostrutturati per celle fotovoltaiche e dispositivi su larga area (MD.P05.001.005) (Modulo)

Autore CNR

• ROBERTO BALBONI (Unità di personale interno)
• SILVIA RUBINI (Unità di personale interno)
• FAUSTINO MARTELLI (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Convergent beam electron-diffraction investigation of lattice mismatch and static disorder in GaAs/GaAs1-xNx intercalated GaAs/GaAs1-xNx" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• ROBERTO BALBONI (Unità di personale interno)
• FAUSTINO MARTELLI (Unità di personale interno)
• SILVIA RUBINI (Unità di personale interno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)
• Materiali nanostrutturati per celle fotovoltaiche e dispositivi su larga area (MD.P05.001.005) (Modulo)
• MD.P06.017.002 Sintesi e studio di nanostrutture (MD.P06.017.006) (Modulo)

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• Applied physics letters (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Convergent beam electron-diffraction investigation of lattice mismatch and static disorder in GaAs/GaAs1-xNx intercalated GaAs/GaAs1-xNx" (Insieme di parole chiave)