Characterisation of AlxIn1-xAs/InP heterointerfaces by transmission electron microscopy (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Characterisation of AlxIn1-xAs/InP heterointerfaces by transmission electron microscopy (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 1993-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• E. Carlino, M. Catalano, C. Giannini, L. Tapfer, E. Tournié, Y. H. Zhang and K. H. Ploog (1993)
  Characterisation of AlxIn1-xAs/InP heterointerfaces by transmission electron microscopy
  in Institute of physics conference series
  (literal)

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• E. Carlino, M. Catalano, C. Giannini, L. Tapfer, E. Tournié, Y. H. Zhang and K. H. Ploog (literal)

Pagina inizio

• 21 (literal)

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• 134 (literal)

Rivista

• Institute of physics conference series (Rivista)

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• 1 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• PASTIS-Centro Nazionale Ricerca e Sviluppo Materiali (PASTIS-CNRSM), S. S. 7 Appia Km 712, I-72100 Brindisi, Italy Mar-Planck-Insitut fir Festkiirper$orschung, Heisenbergstrasse 1, D-70506 Stuttgart, Germany Istituto Materiali per 1'Elettronica de1 Consiglio Nazionale delle Ricerche (IME-CNR), Universitri di Lecce, Dipartimento Scienza dei Materiali, V?aArnesano, I-73100 Lecce. Italy (literal)

Titolo

• Characterisation of AlxIn1-xAs/InP heterointerfaces by transmission electron microscopy (literal)

Abstract

• Lattice matched AlxIn1-xAs epitaxial layers grown by molecular beam epitaxy on InP (100) substrates are investigated by Transmission Electron Microscopy and Double Crystal X-ray Diffractometry. Four different regions close to the Alx(I)n(1-x)As/InP heterointerfaces can be detected. The first region, located at the heterointerface is caused by an intermixing of P and As atoms, while the other regions are caused by a small gradient of In content in the epilayer. (literal)

Prodotto di

• Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.003) (Modulo)

Autore CNR

• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)
• CINZIA GIANNINI (Persona)
• MASSIMO CATALANO (Persona)

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Autore CNR di

• MASSIMO CATALANO (Persona)
• CINZIA GIANNINI (Persona)
• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)

Prodotto

• Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.003) (Modulo)

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• Institute of physics conference series (Rivista)