Atomic resolution composition analysis by scanning transmission electron microscopy high-angle annular dark-field imaging (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Atomic resolution composition analysis by scanning transmission electron microscopy high-angle annular dark-field imaging (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• E. Carlino, S. Modesti, D. Furlanetto, M. Piccin, S. Rubini and A. Franciosi (2003)
  Atomic resolution composition analysis by scanning transmission electron microscopy high-angle annular dark-field imaging
  in Applied physics letters (Online)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• E. Carlino, S. Modesti, D. Furlanetto, M. Piccin, S. Rubini and A. Franciosi (literal)

Pagina inizio

• 662 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 83 (literal)

Rivista

• Applied physics letters (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)
• Scopu (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• Laboratorio Nazionale TASC-INFM, Area Science Park, S.S. 14, Km. 163.5, 34012 Trieste, Italy (literal)

Titolo

• Atomic resolution composition analysis by scanning transmission electron microscopy high-angle annular dark-field imaging (literal)

Abstract

• The silicon concentration profile in Si-GaAs ?001? superlattices grown by molecular beam epitaxy was investigated using scanning transmission electron microscopy high-angle annular dark-field ?HAADF? imaging. Comparison with atomic resolution results obtained through cross-sectional scanning tunneling microscopy indicates that, by choosing appropriate experimental conditions, HAADF imaging can be used to gauge the Si distribution in GaAs on the atomic scale even without any image simulation. © 2003 American Institute of Physics. ?DOI: 10.1063/1.1592314? (literal)

Prodotto di

• Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.003) (Modulo)

Autore CNR

• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)
• SILVIA RUBINI (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Atomic resolution composition analysis by scanning transmission electron microscopy high-angle annular dark-field imaging" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)
• SILVIA RUBINI (Unità di personale interno)

Prodotto

• Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.003) (Modulo)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Applied physics letters (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "Atomic resolution composition analysis by scanning transmission electron microscopy high-angle annular dark-field imaging" (Insieme di parole chiave)