Optical, Structural and Interface Characterization of Single SiO2-SiC Core-Shell Nanowires Grown with a Low-Cost Method (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Optical, Structural and Interface Characterization of Single SiO2-SiC Core-Shell Nanowires Grown with a Low-Cost Method (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1017/S1431927610059829 (literal)

Alternative label

• F. Fabbri, F. Rossi, G. Attolini, G. Salviati, S. Iannotta, L. Aversa, R. Verucchi, M. Nardi, N. Fukata, B. Dierre, and T. Sekiguchi (2010)
  Optical, Structural and Interface Characterization of Single SiO2-SiC Core-Shell Nanowires Grown with a Low-Cost Method
  in Microscopy and microanalysis (Print); Cambridge University Press, Cambridge (Regno Unito)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• F. Fabbri, F. Rossi, G. Attolini, G. Salviati, S. Iannotta, L. Aversa, R. Verucchi, M. Nardi, N. Fukata, B. Dierre, and T. Sekiguchi (literal)

Pagina inizio

• 826 (literal)

Pagina fine

• 827 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#altreInformazioni

• Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2010 in Portland, Oregon, USA, August 1 - August 5, 2010. (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#url

• http://journals.cambridge.org/action/displayAbstract?fromPage=online&aid=7841749 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 16 (literal)

Rivista

• Microscopy and microanalysis (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• S2 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• 1 Consiglio Nazionale delle Ricerche, Instituto dei Materiali per l' Elettronica ed il Magnetismo, Italy; 2 Consiglio Nazionale delle Ricerche, Instituto di Fotonica e Nanotecnologie, Italy; 3 National Institute for Materials Science, Japan (literal)

Titolo

• Optical, Structural and Interface Characterization of Single SiO2-SiC Core-Shell Nanowires Grown with a Low-Cost Method (literal)

Editore

• Cambridge University Press (Editore)

Prodotto di

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)
• Crescita di materiali, funzionalizzazioni e dispositivi da precursori molecolari, inorganici e cluster (MD.P06.037.001) (Modulo)

Autore CNR

• LUCREZIA AVERSA (Persona)
• MARCO VITTORIO NARDI (Persona)
• ROBERTO VERUCCHI (Unità di personale interno)
• FILIPPO FABBRI (Persona)
• GIANCARLO SALVIATI (Persona)
• FRANCESCA ROSSI (Persona)
• GIOVANNI ATTOLINI (Unità di personale interno)
• SALVATORE IANNOTTA (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• SALVATORE IANNOTTA (Unità di personale interno)
• GIANCARLO SALVIATI (Persona)
• ROBERTO VERUCCHI (Unità di personale interno)
• GIOVANNI ATTOLINI (Unità di personale interno)
• FILIPPO FABBRI (Persona)
• LUCREZIA AVERSA (Persona)
• MARCO VITTORIO NARDI (Persona)
• FRANCESCA ROSSI (Persona)

Prodotto

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)
• Crescita di materiali, funzionalizzazioni e dispositivi da precursori molecolari, inorganici e cluster (MD.P06.037.001) (Modulo)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Microscopy and microanalysis (Rivista)

Editore di

• Cambridge University Press (Editore)