Randomized benchmarking and process tomography for gate errors in a solid-state qubit (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Randomized benchmarking and process tomography for gate errors in a solid-state qubit (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2009-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Chow J.M., Gambetta J.M., Tornberg L.,Koch J., Bishop L., Houck A.A., Johnson B.R., Frunzio L. Girvin S.M., Schoelkopf R.J (2009)
  Randomized benchmarking and process tomography for gate errors in a solid-state qubit
  
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Chow J.M., Gambetta J.M., Tornberg L.,Koch J., Bishop L., Houck A.A., Johnson B.R., Frunzio L. Girvin S.M., Schoelkopf R.J (literal)

Pagina inizio

• 090502 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 102 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Titolo

• Randomized benchmarking and process tomography for gate errors in a solid-state qubit (literal)

Prodotto di

• Fisica e Tecnologia dei Sistemi Coerenti (MD.P04.010.001) (Modulo)
• Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti \"Eduardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)

Autore CNR

• LUIGI FRUNZIO (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti \"Eduardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)
• Fisica e Tecnologia dei Sistemi Coerenti (MD.P04.010.001) (Modulo)

Autore CNR di

• LUIGI FRUNZIO (Unità di personale interno)