Keyhole electron diffractive imaging (KEDI) (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Keyhole electron diffractive imaging (KEDI) (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2012-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1107/S0108767312031832 (literal)

Alternative label

• Liberato De Caro,a* Elvio Carlino,b Fabio Alessio Vittoria,a Dritan Siliqia and Cinzia Gianninia (2012)
  Keyhole electron diffractive imaging (KEDI)
  in Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Liberato De Caro,a* Elvio Carlino,b Fabio Alessio Vittoria,a Dritan Siliqia and Cinzia Gianninia (literal)

Pagina inizio

• 687 (literal)

Pagina fine

• 702 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 68 (literal)

Rivista

• Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• aIstituto di Cristallografia - Consiglio Nazionale delle Ricerche (IC-CNR), via Amendola 122/O, I-70125 Bari, Italy, and bIOM CNR Laboratorio TASC, Area Science Park - Basovizza, Bld MM SS 14, 34149 Trieste, Italy. Correspondence e-mail: liberato.decaro@ic.cnr.it (literal)

Titolo

• Keyhole electron diffractive imaging (KEDI) (literal)

Abstract

• Electron diffractive imaging (EDI) relies on combining information from the high-resolution transmission electron microscopy image of an isolated kinematically diffracting nano-particle with the corresponding nano-electron diffraction pattern. Phase-retrieval algorithms allow one to derive the phase, lost in the acquisition of the diffraction pattern, to visualize the actual atomic projected potential within the specimen at sub-ångström resolution, overcoming limitations due to the electron lens aberrations. Here the approach is generalized to study extended crystalline specimens. The new technique has been called keyhole electron diffractive imaging (KEDI) because it aims to investigate nano-regions of extended specimens at sub-ångström resolution by properly confining the illuminated area. Some basic issues of retrieving phase information from the EDI/KEDI measured diffracted amplitudes are discussed. By using the generalized Shannon sampling theorem it is shown that whenever suitable oversampling conditions are satisfied, EDI/KEDI diffraction patterns can contain enough information to lead to reliable phase retrieval of the unknown specimen electrostatic potential. Hence, the KEDI method has been demonstrated by simulations and experiments performed on an Si crystal cross section in the [112] zone-axis orientation, achieving a resolution of 71 pm. (literal)

Prodotto di

• MD.P04.006.003 Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.006) (Modulo)
• Imaging a raggi X e algoritmi di ricostruzione della fase (PM.P04.011.002) (Modulo)

Autore CNR

• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)
• CINZIA GIANNINI (Persona)
• LIBERATO DE CARO (Unità di personale interno)
• DRITAN SILIQI (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• CINZIA GIANNINI (Persona)
• LIBERATO DE CARO (Unità di personale interno)
• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)
• DRITAN SILIQI (Unità di personale interno)

Prodotto

• Imaging a raggi X e algoritmi di ricostruzione della fase (PM.P04.011.002) (Modulo)
• MD.P04.006.003 Sviluppo di metodologie di microscopia elettronica per lo studio a risoluzione atomica delle proprieta' strutturali, elettroniche e magnetiche dei materiali (MD.P04.006.006) (Modulo)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography (Rivista)