Lateral shearing interferometer for measuring refractive index of silicon (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Lateral shearing interferometer for measuring refractive index of silicon (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Giuseppe Coppola, Pietro Ferraro, Sergio De Nicola, and Mario Iodice (2003)
    Lateral shearing interferometer for measuring refractive index of silicon
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Giuseppe Coppola, Pietro Ferraro, Sergio De Nicola, and Mario Iodice (literal)
Pagina inizio
  • 338 (literal)
Pagina fine
  • 340 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 4829 (literal)
Note
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • Giuseppe Coppola and Pietro Ferraro Istituto per la Microelettronica e Microsistemi (Italy) Sergio M. De Nicola Istituto di Cibernetica (Italy) Mario Iodice Istituto per la Microelettronica e Microsistemi (Italy) (literal)
Titolo
  • Lateral shearing interferometer for measuring refractive index of silicon (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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