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Interferometric technique for the determination of thermal nonlinearities in semiconductor glasses (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Interferometric technique for the determination of thermal nonlinearities in semiconductor glasses (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 1989-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
G. Abbate, U. Bernini, P. Maddalena, S. De Nicola, P. Mormile, G. Pierattini (1989)
Interferometric technique for the determination of thermal nonlinearities in semiconductor glasses
in Optics communications (Print)
(literal)
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- G. Abbate, U. Bernini, P. Maddalena, S. De Nicola, P. Mormile, G. Pierattini (literal)
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- Rivista
- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
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- Dipartimento di Scienze Fisiche, Pad. 20, Mostra d'Oltremare, 80125 Napoli, Italy
Consiglio Nazionale delle Ricerche, Istituto di Cibernetica E. Caianiello, Comprensorio Olivetti, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy (literal)
- Titolo
- Interferometric technique for the determination of thermal nonlinearities in semiconductor glasses (literal)
- Abstract
- An experimental method for the determination of thermal nonlinearities of semiconductor doped glasses induced by cw laser
radiation is presented. An estimation of the intensity dependent refractive index is given, at steady state conditions, which is in
good agreement with experimental data reported in the literature for similar materials. (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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