Stray-field effects in submicron YBa2Cu3O7?x bicrystal grain boundary junctions (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Stray-field effects in submicron YBa2Cu3O7?x bicrystal grain boundary junctions (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• G. Testa, F. Laviano, D. -J. Kang, E. J. Tarte, S. H. Mennema, and M. G. Blamire (2006)
  Stray-field effects in submicron YBa2Cu3O7?x bicrystal grain boundary junctions
  
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• G. Testa, F. Laviano, D. -J. Kang, E. J. Tarte, S. H. Mennema, and M. G. Blamire (literal)

Pagina inizio

• 014522 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 73 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Titolo

• Stray-field effects in submicron YBa2Cu3O7?x bicrystal grain boundary junctions (literal)

Prodotto di

• Fisica e Tecnologia dei Sistemi Coerenti (MD.P04.010.001) (Modulo)
• Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti \"Eduardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)

Autore CNR

• GIANLUCA TESTA (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti \"Eduardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)
• Fisica e Tecnologia dei Sistemi Coerenti (MD.P04.010.001) (Modulo)

Autore CNR di

• GIANLUCA TESTA (Unità di personale interno)