Quantitative SIMS analysis of rare earth elements in mafic-ultramafic rock samples (Contributo in atti di convegno)

Type
Label
  • Quantitative SIMS analysis of rare earth elements in mafic-ultramafic rock samples (Contributo in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 1990-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • BOTTAZZI P. 1; OTTOLINI L. 1; VANNUCCI R. 2; (1990)
    Quantitative SIMS analysis of rare earth elements in mafic-ultramafic rock samples
    in VII International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), Hyatt Regency Hotel, Monterey, California (USA), Sept. 3-8 (1989)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • BOTTAZZI P. 1; OTTOLINI L. 1; VANNUCCI R. 2; (literal)
Pagina inizio
  • 413 (literal)
Pagina fine
  • 416 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume
  • Secondary ion mass spectrometry: SIMS VII : proceedings of the Seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, John Wiley & Sons, Chichester (England) (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • 1. Centro di Studio per la Cristallografia Strutturale, Via Bassi 4, 27100 Pavia 2. Dipartimento di Scienze della Terra, Via Bassi 4, 27100 Pavia (literal)
Titolo
  • Quantitative SIMS analysis of rare earth elements in mafic-ultramafic rock samples (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn
  • 0471927384 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume
  • A. Benninghoven (literal)
Editore
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