http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID187453
Quantitative SIMS analysis of rare earth elements in mafic-ultramafic rock samples (Contributo in atti di convegno)
- Type
- Label
- Quantitative SIMS analysis of rare earth elements in mafic-ultramafic rock samples (Contributo in atti di convegno) (literal)
- Anno
- 1990-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
BOTTAZZI P. 1; OTTOLINI L. 1; VANNUCCI R. 2; (1990)
Quantitative SIMS analysis of rare earth elements in mafic-ultramafic rock samples
in VII International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), Hyatt Regency Hotel, Monterey, California (USA), Sept. 3-8 (1989)
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- BOTTAZZI P. 1; OTTOLINI L. 1; VANNUCCI R. 2; (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume
- Secondary ion mass spectrometry: SIMS VII : proceedings of the Seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, John Wiley & Sons, Chichester (England) (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- 1. Centro di Studio per la Cristallografia Strutturale, Via Bassi 4, 27100 Pavia
2. Dipartimento di Scienze della Terra, Via Bassi 4, 27100 Pavia (literal)
- Titolo
- Quantitative SIMS analysis of rare earth elements in mafic-ultramafic rock samples (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume
- A. Benninghoven (literal)
- Editore
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