Method for measuring the refractive index and the thickness of transparent plates by a lateral-shear, wavelength scanning interferometer (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Method for measuring the refractive index and the thickness of transparent plates by a lateral-shear, wavelength scanning interferometer (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• De Nicola S, Coppola G, Ferraro P, Iodice M (2003)
  Method for measuring the refractive index and the thickness of transparent plates by a lateral-shear, wavelength scanning interferometer
  in Applied optics
  (literal)

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• De Nicola S, Coppola G, Ferraro P, Iodice M (literal)

Pagina inizio

• 3882 (literal)

Pagina fine

• 3887 (literal)

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• 42/19 (literal)

Rivista

• Applied optics (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• Consiglio Nazionale delle Ricerche, Istituto di Cibernetica ‘‘E. Caianiello’’, Comprensorio Olivetti, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Sezione di Napoli, Comprensorio Olivetti, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy (literal)

Titolo

• Method for measuring the refractive index and the thickness of transparent plates by a lateral-shear, wavelength scanning interferometer (literal)

Abstract

• An interferometric method is proposed, that can be used to measure simultaneously the thickness and the refractive index of thin films. The experimental set-up employies a lateral-shear interferometer and a DFB laser to scan across the wavelength range (literal)

Prodotto di

• Tecniche di imaging per lo studio e l'analisi di materiali microstrutturati (MD.P03.015.001) (Modulo)
• Istituto di cibernetica \"Edoardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)

Autore CNR

• SERGIO DE NICOLA (Persona)
• PIETRO FERRARO (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Method for measuring the refractive index and the thickness of transparent plates by a lateral-shear, wavelength scanning interferometer" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• PIETRO FERRARO (Unità di personale interno)
• SERGIO DE NICOLA (Persona)

Prodotto

• Istituto di cibernetica \"Edoardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)
• Tecniche di imaging per lo studio e l'analisi di materiali microstrutturati (MD.P03.015.001) (Modulo)

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• Applied optics (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Method for measuring the refractive index and the thickness of transparent plates by a lateral-shear, wavelength scanning interferometer" (Insieme di parole chiave)