Annealing Temperature Dependence of C60 on Silicon Surfaces: Bond Evolution and Fragmentation as Detected by NEXAFS (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Annealing Temperature Dependence of C60 on Silicon Surfaces: Bond Evolution and Fragmentation as Detected by NEXAFS (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2005-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • M. Pedio; F. Borgatti; A. Giglia; N. Mahne; S. Nannarone; S. Giovannini; C. Cepek; E. Magnano; G. Bertoni; E. Spiller; M. Sancrotti; L. Giovanelli; L. Floreano; R. Gotter; A. Morgante; (2005)
    Annealing Temperature Dependence of C60 on Silicon Surfaces: Bond Evolution and Fragmentation as Detected by NEXAFS
    in Physica scripta (Online); The Royal Swedish Academy of Sciences, Stockholm (Svezia)
    (literal)
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  • M. Pedio; F. Borgatti; A. Giglia; N. Mahne; S. Nannarone; S. Giovannini; C. Cepek; E. Magnano; G. Bertoni; E. Spiller; M. Sancrotti; L. Giovanelli; L. Floreano; R. Gotter; A. Morgante; (literal)
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  • 115 (literal)
Rivista
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  • TASC-INFM, Strada Statale 14, km 163.5, I-34012, Trieste, Italy INFM and Dip. Ingegneria dei materiali e dell'ambiente, Universita' Modena e R. E. INFM and Dip. Fisica, Università di Bologna, Italy INFM and Dip. di Matematica e Fisica, Un. Cattolica del Sacro Cuore, Brescia, Italy INFM and Dip. Fisica, Università di Trieste (literal)
Titolo
  • Annealing Temperature Dependence of C60 on Silicon Surfaces: Bond Evolution and Fragmentation as Detected by NEXAFS (literal)
Editore
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