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Nanostructure of buried interface layers in TiO(2) anatase thin films grown on LaAlO(3) and SrTiO(3) substrates (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Nanostructure of buried interface layers in TiO(2) anatase thin films grown on LaAlO(3) and SrTiO(3) substrates (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2012-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1039/c1nr11015b (literal)
- Alternative label
Ciancio, Regina; Carlino, Elvio; Aruta, Carmela; Maccariello, Davide; Miletto Granozio, Fabio; Scotti di Uccio, Umberto (2012)
Nanostructure of buried interface layers in TiO(2) anatase thin films grown on LaAlO(3) and SrTiO(3) substrates
in Nanoscale (Print); ROYAL SOC CHEMISTRY, THOMAS GRAHAM HOUSE,, CAMBRIDGE CB4 0WF, CAMBS, ENGLAND (Regno Unito)
(literal)
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- Ciancio, Regina; Carlino, Elvio; Aruta, Carmela; Maccariello, Davide; Miletto Granozio, Fabio; Scotti di Uccio, Umberto (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
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- http://pubs.rsc.org/en/Content/ArticleLanding/2012/NR/c1nr11015b (literal)
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- Rivista
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- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
- Scopu (literal)
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- 1. CNR IOM TASC, I-34149 Trieste, Italy
2. Complesso Univ Monte SantAngelo, CNR SPIN, I-80126 Naples, Italy
3. Complesso Univ Monte SantAngelo, Dipartimento Sci Fis, I-80126 Naples, Italy (literal)
- Titolo
- Nanostructure of buried interface layers in TiO(2) anatase thin films grown on LaAlO(3) and SrTiO(3) substrates (literal)
- Abstract
- TiO2 anatase thin films grown by pulsed laser deposition are investigated by high resolution transmission electron microscopy and high angle annular dark field scanning transmission electron microscopy. The analyses provide evidence of a peculiar growth mode of anatase on LaAlO3 and SrTiO3 characterized by the formation of an epitaxial layer at the film/substrate interface, due to cationic diffusion from the substrate into the film region. Pure TiO2 anatase growth occurs in both specimens above a critical thickness of about 20 nm. The microstructural and chemical characterization of the samples is presented and discussed in the framework of oxide interface engineering. (literal)
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