Study of the plasma plume generated during near IR femtosecond laser irradiation of silicon targets (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Study of the plasma plume generated during near IR femtosecond laser irradiation of silicon targets (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1007/s00339-004-2785-9 (literal)
Alternative label
  • S. Amoruso (1,2); C. Altucci (1,2); R. Bruzzese (1,2); C. de Lisio (1,2); N. Spinelli (2); R. Velotta (1,2); M. Vitiello (1,2); X. Wang (1) (2004)
    Study of the plasma plume generated during near IR femtosecond laser irradiation of silicon targets
    in Applied physics. A, Materials science & processing (Print); SPRINGER, 233 SPRING ST, NEW YORK, NY 10013 (Stati Uniti d'America)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • S. Amoruso (1,2); C. Altucci (1,2); R. Bruzzese (1,2); C. de Lisio (1,2); N. Spinelli (2); R. Velotta (1,2); M. Vitiello (1,2); X. Wang (1) (literal)
Pagina inizio
  • 1377 (literal)
Pagina fine
  • 1380 (literal)
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  • http://www.springerlink.com/content/42mjtmkmb6etjjq0/?MUD=MP (literal)
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  • 79 (literal)
Rivista
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  • 4 (literal)
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  • 4-6 (literal)
Note
  • Scopu (literal)
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
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  • (1) Coherentia-INFM, Complesso Universitario di Monte S. Angelo, Ed. G Via Cintia, 80126 Napoli, Italy (2) Istituto Nazionale per la Fisica della Materia (INFM) - Unità di Napoli and Dipartimento di Scienze Fisiche, Università degli Studi di Napoli Federico II, Complesso Universitario di Monte S. Angelo, Via Cintia, 80126 Napoli, Italy (literal)
Titolo
  • Study of the plasma plume generated during near IR femtosecond laser irradiation of silicon targets (literal)
Abstract
  • Ti:sapphire femtosecond laser ablation of silicon has been investigated by Langmuir probe and time-gated optical emission spectroscopy. The measured spectra show the presence of a fast ion population preceding the main plume core of slow ions and neutrals produced by a thermal ablation mechanism. By analyzing the fluence thresholds for the emission of the two ion populations, we provide clear experimental evidence that fast ions are ejected non-thermally from the sample surface as a result of the Si surface supercritical state induced by the intense ultrashort laser pulse irradiation. (literal)
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