http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID182007
Study of the plasma plume generated during near IR femtosecond laser irradiation of silicon targets (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Study of the plasma plume generated during near IR femtosecond laser irradiation of silicon targets (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1007/s00339-004-2785-9 (literal)
- Alternative label
S. Amoruso (1,2); C. Altucci (1,2); R. Bruzzese (1,2); C. de Lisio (1,2); N. Spinelli (2); R. Velotta (1,2); M. Vitiello (1,2); X. Wang (1) (2004)
Study of the plasma plume generated during near IR femtosecond laser irradiation of silicon targets
in Applied physics. A, Materials science & processing (Print); SPRINGER, 233 SPRING ST, NEW YORK, NY 10013 (Stati Uniti d'America)
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- S. Amoruso (1,2); C. Altucci (1,2); R. Bruzzese (1,2); C. de Lisio (1,2); N. Spinelli (2); R. Velotta (1,2); M. Vitiello (1,2); X. Wang (1) (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#url
- http://www.springerlink.com/content/42mjtmkmb6etjjq0/?MUD=MP (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
- Rivista
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo
- Note
- Scopu (literal)
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- (1) Coherentia-INFM, Complesso Universitario di Monte S. Angelo, Ed. G Via Cintia, 80126 Napoli, Italy
(2) Istituto Nazionale per la Fisica della Materia (INFM) - Unità di Napoli and Dipartimento di Scienze Fisiche,
Università degli Studi di Napoli Federico II, Complesso Universitario di Monte S. Angelo, Via Cintia,
80126 Napoli, Italy (literal)
- Titolo
- Study of the plasma plume generated during near IR femtosecond laser irradiation of silicon targets (literal)
- Abstract
- Ti:sapphire femtosecond laser ablation of silicon has been investigated by Langmuir probe and time-gated optical emission spectroscopy. The measured spectra show the presence of a fast ion population preceding the main plume core of slow ions and neutrals produced by a thermal ablation mechanism. By analyzing the fluence thresholds for the emission of the two ion populations, we provide clear experimental evidence that fast ions are ejected non-thermally from the sample surface as a result of the Si surface supercritical state induced by the intense ultrashort laser pulse irradiation. (literal)
- Editore
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