Analysis of localised strains in crystals by convergent beam electron diffraction (Contributo in volume (capitolo o saggio))

Type
Label
  • Analysis of localised strains in crystals by convergent beam electron diffraction (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (literal)
Anno
  • 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Armigliato A.; Balboni R.; Benedetti A.; Frabboni S. (2004)
    Analysis of localised strains in crystals by convergent beam electron diffraction
    Kluwer Academic Publishers, Dordrecht (Paesi Bassi) in HIGH-PRESSURE CRYSTALLOGRAPHY, 2004
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Armigliato A.; Balboni R.; Benedetti A.; Frabboni S. (literal)
Pagina inizio
  • 277 (literal)
Pagina fine
  • 295 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume
  • HIGH-PRESSURE CRYSTALLOGRAPHY (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#volumeInCollana
  • 140 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali
  • 19 (literal)
Note
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
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  • Armigliato A. e Balboni R., CNR, IMM, Sez Bologna, Via P Gobetti 101, I-40129 Bologna, Italy Frabboni S., Dip. Fisica Università di Modena e Reggio Emilia & INFM S3 (literal)
Titolo
  • Analysis of localised strains in crystals by convergent beam electron diffraction (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn
  • 1-4020-1954-8 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autoriVolume
  • Katrusiak A.; McMillan P. (literal)
Abstract
  • Convergent beam electron diffraction is a technique available in any modern transmission electron microscope. It allows the determination of the strain tensor in crystals at the nanometer scale. The basic principles of the method and examples of application to microelectronic devices are given. (literal)
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