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Growth and characterization of stable SrO-terminated SrTiO3 surfaces (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Growth and characterization of stable SrO-terminated SrTiO3 surfaces (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2009-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1063/1.3052606 (literal)
- Alternative label
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- M. Radovic; N. Lampis; F. Miletto Granozio; P. Perna; Z. Ristic; M. Salluzzo; C. M. Schleputz; U. Scotti di Uccio (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
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- http://dx.doi.org/10.1063/1.3052606 (literal)
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- Rivista
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- Note
- Google Scholar (literal)
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
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- M. Radovic,1 N. Lampis,1 F. Miletto Granozio,1 P. Perna,1 Z. Ristic,1 M. Salluzzo,1, C. M. Schlepu?tz,2 and U. Scotti di Uccio3
1. CNR INFM Coherentia, I-80126 Naples, Italy
2. Paul Scherrer Inst, Swiss Light Source, CH-5232 Villigen, Switzerland
3. Univ Naples Federico 2, Dipartimento Sci Fis, Naples, Italy
4. Univ Cassino, CNR INFM Coherentia, I-0043 Frosinone, Italy (literal)
- Titolo
- Growth and characterization of stable SrO-terminated SrTiO3 surfaces (literal)
- Abstract
- A simple technique for the growth of SrO-terminated SrTiO3 surfaces is reported. High quality
SrTiO3 epitaxial films were grown by reflection high energy electron diffraction assisted pulsed
laser deposition on suitably prepared NdGaO3 (110) substrates. The surface properties, analyzed
within a growth/characterization multichamber ultrahigh vacuum system by photoemission
spectroscopy performed on the core-level spectra of Sr and Ti, low energy electron diffraction-,
scanning tunneling-, and atomic force microscopy, are fully consistent with a single Sr oxide
termination. The availability of such high quality SrO-terminated SrTiO3 surfaces is of major
importance for the controlled growth of oxide epilayers and interfaces. (literal)
- Editore
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