Suppression of the metal-insulator transition temperature in thin La0.7Sr0.3MnO3 films (Articolo in rivista)

Type
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  • Suppression of the metal-insulator transition temperature in thin La0.7Sr0.3MnO3 films (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
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  • 10.1063/1.1812599 (literal)
Alternative label
  • M. Angeloni; G. Balestrino; N. G. Boggio; P. G. Medaglia; P. Orgiani; A. Tebano (2004)
    Suppression of the metal-insulator transition temperature in thin La0.7Sr0.3MnO3 films
    in Journal of applied physics; American Institute Of Physics (AIP), Melville (Stati Uniti d'America)
    (literal)
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  • M. Angeloni; G. Balestrino; N. G. Boggio; P. G. Medaglia; P. Orgiani; A. Tebano (literal)
Pagina inizio
  • 6387 (literal)
Pagina fine
  • 6392 (literal)
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  • http://jap.aip.org/ (literal)
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  • 96 (literal)
Rivista
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  • 6 (literal)
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  • 11 (literal)
Note
  • Scopus (literal)
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
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  • COHERENTIA-Instituto Nazionale per la Fisica della Materia Dipartimento di Ingegneria Meccanica Università di Roma Tor Vergata, Via del Politecnico 1, 00133 Roma, Italy (literal)
Titolo
  • Suppression of the metal-insulator transition temperature in thin La0.7Sr0.3MnO3 films (literal)
Abstract
  • In this paper, we illustrate an approach to discriminate between epitaxial strain and other factors responsible for the decrease of the metal-insulator transition temperature sTPd in thin La0.7Sr0.3MnO3 films grown by pulsed laser deposition. Using this approach, we have estimated the effect of the biaxial strain on TP. Ultrathin films, independent of epitaxial strain, do not show any metal-insulator transition over the full temperature range. This finding confirms the existence of an interface dead layer. The strain-independent decrease in TP, relative to its bulk value, observed for a much wider thickness range (up to about 1000 Å) can most likely be attributed to oxygen deficiency. (literal)
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