http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID173947
Grain Boundary Characterisation in Sequentially Laterally Solidified Polycrystalline-Silicon Thin Film Transistors (Contributo in atti di convegno)
- Type
- Label
- Grain Boundary Characterisation in Sequentially Laterally Solidified Polycrystalline-Silicon Thin Film Transistors (Contributo in atti di convegno) (literal)
- Anno
- 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
a. Valletta, a. Bonfiglietti, m. Rapisarda l. Mariucci, a. Pecora, g. Fortunato, and s. D. Brotherton (2007)
Grain Boundary Characterisation in Sequentially Laterally Solidified Polycrystalline-Silicon Thin Film Transistors
in 3rd International TFT Conference ITC 2007, Roma
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- a. Valletta, a. Bonfiglietti, m. Rapisarda l. Mariucci, a. Pecora, g. Fortunato, and s. D. Brotherton (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#altreInformazioni
- Proc. 3rd International TFT Conference ITC 2007 (Jan. 25-26, 2007, Roma) ISSN 1738-6047 pg. 336-339 (literal)
- Titolo
- Grain Boundary Characterisation in Sequentially Laterally Solidified Polycrystalline-Silicon Thin Film Transistors (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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