http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID173179
Hump Characteristics and Edge Effects in Polysilicon Thin Film Transistors (Contributo in atti di convegno)
- Type
- Label
- Hump Characteristics and Edge Effects in Polysilicon Thin Film Transistors (Contributo in atti di convegno) (literal)
- Anno
- 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
A. Valletta, P. Gaucci, L. Mariucci, G. Fortunato and F. Templier (2007)
Hump Characteristics and Edge Effects in Polysilicon Thin Film Transistors
in 14th Workshop on Active-Matrix Flatpanel Displays and Devices (AM-FPD 07), Hyogo
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- A. Valletta, P. Gaucci, L. Mariucci, G. Fortunato and F. Templier (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#altreInformazioni
- Proc. 14th Workshop on Active-Matrix Flatpanel Displays and Devices (AM-FPD 07), (July 11-13, 2007, Hyogo, Japan) pg. 183-186 (literal)
- Titolo
- Hump Characteristics and Edge Effects in Polysilicon Thin Film Transistors (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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