“Hump” Characteristics and Edge Effects in Polysilicon Thin Film Transistors (Contributo in atti di convegno)

Type
Label
  • “Hump” Characteristics and Edge Effects in Polysilicon Thin Film Transistors (Contributo in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • A. Valletta, P. Gaucci, L. Mariucci, G. Fortunato and F. Templier (2007)
    “Hump” Characteristics and Edge Effects in Polysilicon Thin Film Transistors
    in 14th Workshop on Active-Matrix Flatpanel Displays and Devices (AM-FPD ’07), Hyogo
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • A. Valletta, P. Gaucci, L. Mariucci, G. Fortunato and F. Templier (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#altreInformazioni
  • Proc. 14th Workshop on Active-Matrix Flatpanel Displays and Devices (AM-FPD ’07), (July 11-13, 2007, Hyogo, Japan) pg. 183-186 (literal)
Titolo
  • “Hump” Characteristics and Edge Effects in Polysilicon Thin Film Transistors (literal)
Prodotto di
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