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Selective control of edge-channel trajectories by scanning gate microscopy (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Selective control of edge-channel trajectories by scanning gate microscopy (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
Paradiso N., Heun S., Roddaro S., Pfeiffer L.N., West K.W., Sorba L., Biasiol G. and Beltram F. (2010)
Selective control of edge-channel trajectories by scanning gate microscopy
in Physica. E, Low-dimensional systems and nanostructures (Print)
(literal)
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- Paradiso N., Heun S., Roddaro S., Pfeiffer L.N., West K.W., Sorba L., Biasiol G. and Beltram F. (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
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- Rivista
- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- 1. CNR, INFM, NEST, I-56127 Pisa, Italy
2. Scuola Normale Super Pisa, I-56127 Pisa, Italy
3. Bell Labs Lucent Technol, Murray Hill, NJ 07974 USA
4. Lab Nazl TASC INFM, I-34012 Trieste, Italy (literal)
- Titolo
- Selective control of edge-channel trajectories by scanning gate microscopy (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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