The influence of stoichiometry on the structural stability and on the optical emission of erbium silicate thin films (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• The influence of stoichiometry on the structural stability and on the optical emission of erbium silicate thin films (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2008-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1063/1.2957034 (literal)

Alternative label

• Lo Savio, R; Miritello, M; Piro, AM; Priolo, F; Iacona, F (2008)
  The influence of stoichiometry on the structural stability and on the optical emission of erbium silicate thin films
  in Applied physics letters
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Lo Savio, R; Miritello, M; Piro, AM; Priolo, F; Iacona, F (literal)

Pagina inizio

• 021919-1 (literal)

Pagina fine

• 021919-3 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 93 (literal)

Rivista

• Applied physics letters (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 3 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• \"[Lo Savio, R.; Miritello, M.; Piro, A. M.; Priolo, F.] Univ Catania, INFM, MATIS CNR, I-95123 Catania, Italy; [Lo Savio, R.; Miritello, M.; Piro, A. M.; Priolo, F.] Univ Catania, Dipartimento Fis & Astron, I-95123 Catania, Italy; [Iacona, F.] CNR, IMM, I-95121 Catania, Italy (literal)

Titolo

• The influence of stoichiometry on the structural stability and on the optical emission of erbium silicate thin films (literal)

Abstract

• We report the effects of thermal annealing performed in N-2 or O-2 ambient at 1200 degrees C on the structural and optical properties of Er silicate films having different compositions (Er2SiO5, Er2Si2O7, and their mixture). We demonstrate that the chemical composition of the stoichiometric films is preserved after the thermal treatments. All different crystalline structures formed after the thermal annealing are identified. Thermal treatments in O-2 lead to a strong enhancement of the photoluminescence intensity, owing to the efficient reduction of defect density. In particular the highest optical efficiency is associated to Er ions in the alpha phase of Er2Si2O7. (C) 2008 American Institute of Physics. (literal)

Prodotto di

• Controllo su scala atomica dei materiali per dispositivi innovativi elettronici e fotonici basati su silicio. (MD.P05.006.001) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• MARIA PILAR MIRITELLO (Unità di personale esterno)
• FABIO SANTO IACONA (Persona)
• FRANCESCO PRIOLO (Persona)
• ROBERTO LO SAVIO (Unità di personale esterno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "The influence of stoichiometry on the structural stability and on the optical emission of erbium silicate thin films" (Insieme di parole chiave)

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Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Controllo su scala atomica dei materiali per dispositivi innovativi elettronici e fotonici basati su silicio. (MD.P05.006.001) (Modulo)

Autore CNR di

• FRANCESCO PRIOLO (Persona)
• MARIA PILAR MIRITELLO (Unità di personale esterno)
• ROBERTO LO SAVIO (Unità di personale esterno)
• FABIO SANTO IACONA (Persona)

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• Applied physics letters (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "The influence of stoichiometry on the structural stability and on the optical emission of erbium silicate thin films" (Insieme di parole chiave)