http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID166626
EM-Schlieren Verification test session in Naples Characterization for FM (Rapporti tecnici, manuali, carte geologiche e tematiche e prodotti multimediali)
- Type
- Label
- EM-Schlieren Verification test session in Naples Characterization for FM (Rapporti tecnici, manuali, carte geologiche e tematiche e prodotti multimediali) (literal)
- Anno
- 2007-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Zuccaro Marchi A. (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note
- Rapporo pregetto di ricerca, Prot. CNR-INOA n. 319 del 19/03/2007 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#supporto
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy (literal)
- Titolo
- EM-Schlieren Verification test session in Naples Characterization for FM (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
- Insieme di parole chiave
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